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PEEK IC測試座

PEEK在很廣的溫度范圍內,保持良好的電氣性能、尺寸穩(wěn)定性和耐磨性,適合長時間高溫環(huán)境下使用,可以延長IC測試座工作使用壽命,保證測試結果的準確性和可靠性。

Image Description
PEEK CPU冷熱測試零件
PEEK CPU冷熱測試零件

PEEK CPU冷熱測試零件

PEEK IC測試座(測試插座、測試socket)作為半導體測試環(huán)節(jié)中的重要治具。它提供了一個可靠的、機械穩(wěn)定的連接點,允許測試員對芯片進行測試,檢查生產制造缺陷及元器件不良,而不需要永久焊接或安裝到電路板上。

PEEK測試座

IC測試座(測試插座、測試socket)作為半導體測試環(huán)節(jié)中的重要治具。它提供了一個可靠的、機械穩(wěn)定的連接點,允許測試員對芯片進行測試,檢查生產制造缺陷及元器件不良,而不需要永久焊接或安裝到電路板上。

IC芯片在做單片檢驗時,需要一種高溫下尺寸穩(wěn)定、同時能承受成千上萬次接觸摩擦的測試座,采用PEEK材質制成的IC測試插座具有以下更好的優(yōu)點:

1、PEEK在高溫下可以承受很高的靜態(tài)載荷,具有穩(wěn)定的高帶寬,低電阻和低電感。

2、PEEK在很廣的溫度范圍內,可以保持良好的尺寸穩(wěn)定性,長期可以在260℃的高溫下工作,適應-40℃至125℃的工作環(huán)境,滿足各種極端條件下的測試需求,可以保證IC測試座工作時的高精度尺寸穩(wěn)定性。

3、PEEK高強度,具有超高的耐磨性,可以承受IC芯片的上萬次的接觸摩擦,保證IC測試座的可靠性。

 

隨著技術發(fā)展,半導體芯片晶體管密度越來越高,相關產品復雜度及集成度呈現(xiàn)指數(shù)級增長,這對于芯片設計及開發(fā)而言是前所未有的挑戰(zhàn)。

同時,隨著芯片開發(fā)周期的縮短,對于流片的成功率要求越來越高,任何一次失敗,對企業(yè)而言都是巨大損失。此外,半導體制程工藝不斷提升,需要面臨大量的技術挑戰(zhàn),半導體測試貫穿IC全產業(yè)鏈。

 

選擇合適的測試座材料是非常關鍵的,因為它直接影響到測試的準確性和可靠性。

 

不同IC測試座的材質特征:

1、PEEK綜合性良好,最常用的材料,適用于高低溫環(huán)境;

2、TORLON耐磨性佳,不適合高低溫,容易吸水產生變形;

3、PEEK5600ESD防靜電要求情況下使用;

4、PI韌性好,抗變壓能力強,抗吸水性,熔點高,但是價格貴。

 

君華一直為客戶提供高性能、高質量的PEEK測試插座,助力客戶精準測量參數(shù),優(yōu)化對應設計方案,提升產品生產良品率,可以根據客戶需求定制各種規(guī)格型號的PEEK IC Socket。

 

君華股份自2007年成立以來,專注于PEEK(聚醚醚酮)和PI(聚酰亞胺)等高分子樹脂、型材及制品的應用研發(fā)及生產,具有全產業(yè)鏈優(yōu)勢。

產品廣泛應用于電子半導體、光伏和LED行業(yè),覆蓋生產設備、清洗、涂膠、刻蝕、CMP、劃片和封裝測試等關鍵環(huán)節(jié),相關制品有:Wafer handing tools(晶圓夾持工具)、PEEK真空無痕吸盤、PI定制件、PEEK定制件、晶圓拖齒、PEEK螺絲,螺母,墊片、CMP?PEEK保持環(huán)、電鍍選渡環(huán)、晶圓支架、IC測試治具、PEEK絕緣板、PEEK板/棒/管、PI板/棒材等特種工程塑料制品及型材。

公司憑借全產業(yè)鏈優(yōu)勢,為高科技行業(yè)提供定制化解決方案,推動產業(yè)技術進步。

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